Diseño y construcción de un relevador de curvas I-V para estudio de propiedades eléctricas de sistemas metal-semiconductor-metal

Authors

  • Víctor Toranzos Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales y Agrimensura
  • Lucy Valdez Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales y Agrimensura
  • Guillermo Ortiz Universidad Nacional del Nordeste. Facultad de Ciencias Exactas y Naturales y Agrimensura

DOI:

https://doi.org/10.30972/fac.3306843

Keywords:

Electrónica, caracterización, diodos, instrumentos

Abstract

Considerando la respuesta lineal que se obtiene utilizando circuitos electrónicos operacionales de uso común en el mercado, presentamos el diseño y construcción de un dispositivo para obtener en forma eficiente gráficas de respuesta I-V en sistemas estratificados del tipo metal-dieléctrico. El componente principal es un microcontrolador ATMEGA 328 montado en una placa de desarrollo ARDUINO NANO (μC) [1]. Este dispositivo, que denominamos relevador, consiste en una fuente de tensión controlada desde el μC por modulación de ancho de pulso (PWM) con una precisión de 8 bits y máxima salida de 10 V, sensor de tensión de 10 bits y máximo de escala de 10 V y sensor de corriente de 10 bits con dos escalas manualmente seleccionables con valores máximos de 10 y 100 mA respectivamente. El relevador es operado por una computadora (PC) a través de la placa ARDUINO NANO conectado vía bus USB, tanto para el control de la fuente como para la adquisición de datos de tensión y corriente. Los datos de cada relevamiento son almacenados en un archivo de texto de la PC. Se muestran graficas de entrada y salida que comparadas con un multímetro de banco nos permiten verificar el funcionamiento del instrumento y su respuesta lineal.

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Published

2023-09-26

How to Cite

Toranzos, V., Valdez, L., & Ortiz, G. (2023). Diseño y construcción de un relevador de curvas I-V para estudio de propiedades eléctricas de sistemas metal-semiconductor-metal. Extensionismo, Innovación Y Transferencia Tecnológica, 8(1), 43–49. https://doi.org/10.30972/fac.3306843

Issue

Section

Artículos Científicos